Mion-sgrùdadh semiconductor
-
DB-FIB
Ro-ràdh Seirbheis An-dràsta, tha DB-FIB (Beam Ion Focused ian Beam) air a chuir an sàs gu farsaing ann an rannsachadh agus sgrùdadh toraidh thar raointean leithid: Stuthan ceirmeag, Polymers, Stuthan meatailte, Sgrùdaidhean bith-eòlasach, Semiconductors, Farsaingeachd Seirbheis Geòlas Stuthan leth-chonnsair, stuthan organach beaga moileciuil, stuthan polymer, stuthan tar-chinealach organach / neo-organach, stuthan tar-chinealach neo-organach neo-mheatailt cùl-fhiosrachadh. -
Mion-sgrùdadh Corporra millteach
Tha cunbhalachd càileachdden phròiseas saothrachaidhannsco-phàirtean eileagtronaigeachthaan ro-riatanachairson co-phàirtean dealanach gus coinneachadh ris an cleachdadh agus mion-chomharrachadh co-cheangailte riutha. Tha àireamh mhòr de cho-phàirtean meallta agus ath-leasaichte a ’tuiltean a’ mhargaidh solarachaidh phàirtean, an dòigh-obrachgus dearbhadh dè cho ceart ‘s a tha na pàirtean den sgeilp na dhuilgheadas mòr a tha a 'toirt buaidh air luchd-cleachdaidh co-phàirtean.
-
Mion-sgrùdadh fàilligeadh
Le giorrachadh cearcall R&D na h-iomairt agus fàs an sgèile saothrachaidh, tha riaghladh toraidh agus farpaiseachd toraidh a’ chompanaidh mu choinneimh iomadh cuideam bho mhargaidhean dachaigheil is cèin. Rè beatha iomlan an toraidh, tha càileachd toraidh cinnteach, agus tha an ìre fàilligeadh ìosal no eadhon neoni Bidh fàiligeadh gu bhith na farpaiseachd cudromach aig iomairt, ach tha e cuideachd na dhùbhlan airson smachd càileachd iomairt.
