Mion-sgrùdadh Corporra millteach
Ro-ràdh seirbheis
Bidh GRGT a’ toirt seachad mion-sgrùdadh corporra millteach (DPA) de phàirtean a’ còmhdach phàirtean fulangach, innealan air leth agus cuairtean amalaichte.
Airson pròiseasan semiconductor adhartach, tha na comasan DPA a ’còmhdach chips fo 7nm, dh’ fhaodadh na duilgheadasan a bhith glaiste anns an ìre chip sònraichte no raon um;airson co-phàirtean seulachaidh adhair aig ìre aerospace le riatanasan smachd bhalbhaichean uisge, dh’ fhaodadh mion-sgrùdadh cumadh bhalbhaichean uisge a-staigh aig ìre PPM a bhith air a dhèanamh gus dèanamh cinnteach gu bheil riatanasan cleachdaidh sònraichte aig co-phàirtean seulachaidh èadhair.
Farsaingeachd seirbheis
Sgoltagan cuairteachaidh aonaichte, co-phàirtean dealanach, innealan air leth, innealan electromechanical, càbaill agus luchd-ceangail, microprocessors, innealan loidsig prògramaichte, cuimhne, AD/DA, eadar-aghaidh bus, cuairtean didseatach coitcheann, suidsichean analog, innealan analog, innealan microwave, solar cumhachd, msaa.
Inbhean deuchainn
● GJB128A-97 Semiconductor modh deuchainn inneal air leth
● Modh deuchainn co-phàirtean dealanach is dealain GJB360A-96
● GJB548B-2005 Microelectronic inneal deuchainn dòighean agus modhan-obrach
● GJB7243-2011 Sgrionadh Riatanasan Teicnigeach airson Co-phàirtean Dealanach Armailteach
● GJB40247A-2006 Modh Mion-sgrùdadh Corporra millteach airson co-phàirtean dealanach armachd
● QJ10003—Stiùireadh Sgrionaidh 2008 airson Co-phàirtean air an toirt a-steach
● MIL-STD-750D semiconductor modh deuchainn inneal air leth
● Modhan agus modhan deuchainn inneal microelectronic MIL-STD-883G
Feartan deuchainn
| Seòrsa deuchainn | Feartan deuchainn |
| Nithean neo-sgriosail | Sgrùdadh lèirsinneach taobh a-muigh, sgrùdadh X-ray, PIND, seulachadh, neart crìochnachaidh, sgrùdadh microsgop fuaimneach |
| Nì millteach | De-capsulation laser, e-capsulation ceimigeach, mion-sgrùdadh co-dhèanamh gas a-staigh, sgrùdadh lèirsinneach a-staigh, sgrùdadh SEM, neart ceangail, neart rùsgaidh, neart adhesive, delamination chip, sgrùdadh substrate, dathadh snaim PN, DB FIB, lorg àiteachan teth, suidheachadh aodion lorg, lorg sgàineadh, deuchainn ESD |
